- Localidad
- Madrid (Madrid)
DIFRACCIÓN DE RAYOS X
Esta unidad ofrece a, tanto a usuarios del ICMM como a usuarios externos, equipamiento para la caracterización cristalográfica de muestras en forma de polvo (3 difractómetros) y monocristalinas (1 difractómetro) y el análisis de materiales de lámina delgada y texturados (1 difractómetro, también usado para reflectometría).
Actualmente los científicos E. Gutiérrez, F. Gándara y F.J. Mompeán y la técnico (F. Esteban) comparten el mantenimiento y puesta al día de los cinco difractómetros disponibles y asesoran y/o colaboran con usuarios en aquellas medidas no rutinarias. Periódicamente se organizan reuniones de usuarios sobre instrumentación, organización y estrategia.
Prestaciones de servicio ofertadas por la unidad